Das Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS in Chemnitz hat das European Test and Reliability Center (ETRC) eröffnet. Das neu angesiedelte Kompetenzzentrum bündelt strategische Kompetenzen für Tests und Zuverlässigkeitsbewertungen von Halbleiterbauelementen. Es versteht sich als strategische Plattform für die Entwicklung, Erprobung und Validierung innovativer Test- und Zuverlässigkeitsverfahren entlang der gesamten Halbleiter-Wertschöpfungskette vom Chipdesign, über Frontend bis Packaging und wird u.a. von der EU gefördert.
Mit KI-gestützter Fehleranalytik, thermisch-elektrischer Belastungssimulation und einer modernen Testdateninfrastruktur kann das ETRC Unternehmen und Forschungseinrichtungen dabei unterstützen, die Serienfähigkeit neuer Halbleiterprodukte schneller, sicherer und nachhaltiger zu erreichen. Gerade in sicherheitskritischen Anwendungen, etwa in der Automobilindustrie, in der Medizintechnik oder im Bereich des Industrial Internet of Things, ist die Fähigkeit, Bauelemente frühzeitig auf Fehlertoleranz und Systemverhalten zu testen, ein strategischer Wettbewerbsvorteil.
Prof. Dr. Harald Kuhn, Institutsleiter des Fraunhofer ENAS, bringt die strategische Bedeutung des neuen Zentrums auf den Punkt: „Mit dem ETRC setzen wir ein starkes Zeichen für Europas Anspruch, technologische Exzellenz mit geprüfter Qualität und Zuverlässigkeit zu verbinden. Es steht für einen Wandel im Innovationsprozess hin zu einem vernetzten, beschleunigten Denken in Kreisläufen. Das ist ein entscheidender Schritt, um Qualität, Nachhaltigkeit und wirtschaftliche Unabhängigkeit im Halbleitermarkt langfristig zu sichern. Ich bin überzeugt, dass vom ETRC entscheidende Impulse für Europas technologische Souveränität und Wettbewerbsfähigkeit ausgehen “ rel=“nofollow“ target=“_blank“>werden.“
